測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:08-16 2024 來自:祥宇精密
祥宇影像測量儀在制造過程中,由于材料、加工工藝等方面的限制,不可避免地會產(chǎn)生一些誤差。例如,機械部件的加工精度、裝配精度等都會對測量結果產(chǎn)生影響。
測量儀器在出廠前都會經(jīng)過嚴格的校準,但校準過程中也可能存在誤差。校準設備的精度、校準方法的合理性等都會影響最終的測量結果。
隨著使用時間的增加,測量儀器的一些零部件可能會出現(xiàn)老化現(xiàn)象,如機械部件的磨損、電子元件的老化等,這些都會導致測量誤差的產(chǎn)生。
溫度的變化會對測量儀器的性能產(chǎn)生顯著影響。例如,金屬材料的熱脹冷縮會導致測量基準的變化,從而產(chǎn)生測量誤差。
濕度過高或過低都可能影響測量儀器的正常工作。例如,濕度過高可能導致電子元件短路,濕度過低則容易產(chǎn)生靜電,影響測量結果。
測量儀器在工作時需要一個穩(wěn)定的環(huán)境,振動干擾會導致測量結果的不穩(wěn)定。工廠中的機械設備、交通車輛等都可能產(chǎn)生振動,影響測量精度。
操作人員在使用測量儀器時,如果操作不當,也會導致測量誤差。例如,輸入錯誤的測量參數(shù)、誤操作儀器等都會影響測量結果。
樣品的準備工作也是影響測量結果的重要因素。例如,樣品表面的清潔度、樣品的放置位置等都會對測量結果產(chǎn)生影響。
測量結果的數(shù)據(jù)處理也是一個關鍵環(huán)節(jié)。操作人員在處理數(shù)據(jù)時,如果方法不當或者計算錯誤,都會導致最終結果的偏差。
不同的測量方法有不同的測量原理,每種原理都有其適用范圍和局限性。例如,光學測量方法在某些情況下可能會受到光線折射、反射等因素的影響,從而產(chǎn)生誤差。
測量過程中的每一個步驟都可能引入誤差。例如,樣品的定位、測量儀器的調整、數(shù)據(jù)的讀取等都會對最終結果產(chǎn)生影響。
多次測量取平均值是一種減小隨機誤差的有效方法。如果測量次數(shù)不足,可能會導致結果的偶然性增大,從而產(chǎn)生誤差。